I類和II類MLCC電容的實(shí)際測量頻率和電壓各有不同。如I類MLCC產(chǎn)品，以KemetC0402C330J3GACTU為例，它的測量頻率為1MHz±10%，測量交流電壓為1.0±0.2Vrms。II類MLCC產(chǎn)品，如Samsung CL03A225MP3CRNC，它的測量測量頻率為1KHz±10%，測量交流電壓為 0.5 ± 0.1Vrms。      

 

*請參閱有關(guān)電容器在網(wǎng)站上的規(guī)格

 

表一，I類和II類MLCC的測量頻率和電壓

 

 

我們常常見到不同的MLCC有不同的TCC系數(shù)（電容溫度系數(shù)/Temperature Coefficient of Capacitance）。TCC是指在特定的溫度內(nèi)，溫度每變化1℃時(shí)，電容的變化數(shù)值與該溫度下的電容變化的比值。

 

  

圖一，I類和II類MLCC的溫度特性和隨溫度的電容變化

 

I類MLCC有較穩(wěn)定的TCC表現(xiàn)，你會發(fā)現(xiàn)它的電容量隨溫度呈線性變化，但I(xiàn)I類MLCC的電容器是隨溫度呈不規(guī)則變化，這是由于鈦酸鋇（BaTiO 3）的介電材料的性質(zhì)。所以我們測量MLCC時(shí)必須在指定的工作溫度下進(jìn)行。

 

 

直流偏置是影響MLCC電容的重要電參數(shù)，特別是直流偏置會使II類MLCC電容隨著直流電壓增加而損耗。II類MLCC基于具有鐵電偶極子的BaTiO3，直流偏置會限制偶極運(yùn)動，導(dǎo)致II類MLCC介電常數(shù)和電容的降低。盡管I類MLCC的介電常數(shù)比X5R，X7R和Y5V低, 但它電容量受直流電壓影響是比較穩(wěn)定的。 Y5V介電常數(shù)最高，但有很嚴(yán)重的老化。
 

圖二，直流偏置對MLCC影響

 

 

由于I類MLCC以順電材料組成，它的電容不會因交流電壓轉(zhuǎn)變而變化，但I(xiàn)I類MLCC電容是隨著交流電壓的增加而變化。在II類MLCC中，Y5V顯示交流電壓的變化比X5R/X7R更嚴(yán)重，這是由于鐵電材料的電壓對極化曲線的非線性特性。

 

圖三，10uF X7R 6.3V的電容量在不同交流電壓的轉(zhuǎn)變

 

請注意，如果過多電壓施加到電容器上，有可能導(dǎo)致由內(nèi)部電介質(zhì)層的斷裂而引起的短路。這持續(xù)施加過多電壓直到斷裂的時(shí)間性，是取決于電壓多少和環(huán)境溫度。

 

II類MLCC的電容量隨室溫中長時(shí)間放置呈對數(shù)關(guān)系減少，但I(xiàn)類MLCC由順電性質(zhì)的材料組成而不會有老化現(xiàn)象。老化本質(zhì)上是可逆的，但元件的老化是不能阻止的。在MLCC的試驗(yàn)性能前，我們需要進(jìn)行熱處理。即通過在居里點(diǎn)以上加熱（150℃至少1小時(shí)）并冷卻至室溫，將MLCC晶體結(jié)構(gòu)恢復(fù)到其最佳的無序排列，從而實(shí)現(xiàn)最大電容量。

 

圖四            不同電容的老化特性

 

市場上大部份LCR測試儀操作簡便，功能直接，能滿足我們工程師對元件的檢驗(yàn)和電子維修測試要求。但當(dāng)測試高容量MLCC時(shí)，推薦選用具有ALC（自動電平控制/Automatic Level Control）功能的LCR測試儀。ALC是針對由于元件本身變化，環(huán)境引起工作點(diǎn)變化等，在測試電路中加入的穩(wěn)定電平的電路，從而自動糾正偏移的電平回到要求的數(shù)值。B&K Precision895就是其中一款具有ALC功能的LCR測試儀。

 

  

圖五，B&K Precision 895和它的測量設(shè)置菜單

 

通過ALC功能，您可以保持施加到被測的MLCC的測量信號到恒定電壓水平。但如果沒有打開ALC功能，很大可能會導(dǎo)致高容量MLCC讀數(shù)被錯誤讀低。

 

 

綜上所述，大家在測試高容量MLCC性能時(shí)，請?zhí)貏e留意以下三點(diǎn)。

 

1)在測量前進(jìn)行熱處理

 

2)按照數(shù)據(jù)手冊上的指定工作溫度，電壓和頻率進(jìn)行測試

 

3)推薦使用帶有ALC功能的測試設(shè)備進(jìn)行測試


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